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商品詳情
美國GE公司單晶可換膜片探傷儀探頭主要應用領域
通常：用于容積形或者平等于表面的缺陷的探測和評估�？苫Q的抗磨損的保護膜可以使得探頭在粗糙或者彎曲的表面也達到盡可能好的耦合，并防止探頭受損。
K..S，K..SM，K..SC和MK..S(粗晶探頭)：
探頭型號有：K0.5S、K1S、K0.5SM、K1SM、K1SC、K2SC、MK1S、MK2S、MK4S
用于測試這樣一類的中等尺寸和大尺寸物體，它們的材料會通過聲波的散射作用（例如灰口鑄鐵、非鐵重金屬材料或者塑料合成材料等制成的物體）而導致高的聲波衰減。
它們也可以用于測試材料的物理特性（例如建筑材料、巖芯和半導體材料的特性）。
MK4S單晶直探頭美國GE公司德國KK探傷儀探頭
美國GE、德國KK公司 單晶直探頭型號如下： B1S、B2S、B4S、B5S、MB2S、MB4S、MB5S 探頭詳細信息請致電：0755-22325800,22325920咨詢了解！
