CTC HCT-BERT/C誤碼測(cè)試儀
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商品詳情
HCT-BERT/C數(shù)據(jù)誤碼測(cè)試儀E1線路誤碼測(cè)試成幀與非成幀的端到端測(cè)試成幀監(jiān)測(cè)分時(shí)隙的抽取和插入數(shù)據(jù)線路誤碼測(cè)試DTE/DCEn×64k同步測(cè)試DTE/DCE低速率，同步/異步測(cè)試HCT-BERT/C數(shù)據(jù)誤碼測(cè)試儀是一款真彩屏、圖形化、全中文操作界面的手持式E1/數(shù)據(jù)誤碼測(cè)試儀表。用于E1/G.703線路的現(xiàn)場(chǎng)維護(hù)和分析，以及數(shù)據(jù)線路(V.35，V.24/RS232,RS449,RS530,X.21)的誤碼測(cè)試。EB-2048功能全面,操作方便,既可按照G.821,G.826,M.2100等國際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試結(jié)果的分析、顯示,還可根據(jù)用戶的要求對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)、統(tǒng)計(jì)、分析，是線路質(zhì)量測(cè)量的理想工具。
功能特點(diǎn)真彩屏、圖形化、全中文操作界面
多種類型E1差錯(cuò)分析，包括E1幀、圖案、CRC、和BPV分析
誤碼性能分析（G.821,G.826，M.2100）
E1信號(hào)頻偏測(cè)試
可對(duì)E1線路的各個(gè)時(shí)隙進(jìn)行設(shè)定（FAS,CAS）
可對(duì)E1信道中的時(shí)隙進(jìn)行抽取和插入（N×64K數(shù)據(jù)）
對(duì)信令的ABCD比特進(jìn)行設(shè)定，顯示
對(duì)0時(shí)隙的Sa比特進(jìn)行設(shè)定，顯示
數(shù)據(jù)端口的誤碼測(cè)試（接口形式：V.35，V.24/RS232,RS449,RS530,X.21）
離線分析BERT性能
可存儲(chǔ)100個(gè)配置和測(cè)試結(jié)果文件，由用戶存儲(chǔ)或調(diào)出。
PC終端本地或遠(yuǎn)程控制
直方圖直觀顯示
多種測(cè)試結(jié)果輸出方式：內(nèi)部存儲(chǔ)結(jié)果、液晶屏顯示、并行口打印
內(nèi)置大容量充電電池，便于現(xiàn)場(chǎng)攜帶使用。接口形式E1接口：RJ45(平衡)、BNC（非平衡）
數(shù)據(jù)接口：DB26(母)
時(shí)鐘接口：PCM
打印口：DB15(母)
控制口：USB基本應(yīng)用E1線路誤碼測(cè)試
成幀與非成幀的端到端測(cè)試
成幀監(jiān)測(cè)
分時(shí)隙的抽取和插入
數(shù)據(jù)線路誤碼測(cè)試
DTE/DCEn×64k同步測(cè)試
DTE/DCE低速率，同步/異步測(cè)試
功能特點(diǎn)真彩屏、圖形化、全中文操作界面
多種類型E1差錯(cuò)分析，包括E1幀、圖案、CRC、和BPV分析
誤碼性能分析（G.821,G.826，M.2100）
E1信號(hào)頻偏測(cè)試
可對(duì)E1線路的各個(gè)時(shí)隙進(jìn)行設(shè)定（FAS,CAS）
可對(duì)E1信道中的時(shí)隙進(jìn)行抽取和插入（N×64K數(shù)據(jù)）
對(duì)信令的ABCD比特進(jìn)行設(shè)定，顯示
對(duì)0時(shí)隙的Sa比特進(jìn)行設(shè)定，顯示
數(shù)據(jù)端口的誤碼測(cè)試（接口形式：V.35，V.24/RS232,RS449,RS530,X.21）
離線分析BERT性能
可存儲(chǔ)100個(gè)配置和測(cè)試結(jié)果文件，由用戶存儲(chǔ)或調(diào)出。
PC終端本地或遠(yuǎn)程控制
直方圖直觀顯示
多種測(cè)試結(jié)果輸出方式：內(nèi)部存儲(chǔ)結(jié)果、液晶屏顯示、并行口打印
內(nèi)置大容量充電電池，便于現(xiàn)場(chǎng)攜帶使用。接口形式E1接口：RJ45(平衡)、BNC（非平衡）
數(shù)據(jù)接口：DB26(母)
時(shí)鐘接口：PCM
打印口：DB15(母)
控制口：USB基本應(yīng)用E1線路誤碼測(cè)試
成幀與非成幀的端到端測(cè)試
成幀監(jiān)測(cè)
分時(shí)隙的抽取和插入
數(shù)據(jù)線路誤碼測(cè)試
DTE/DCEn×64k同步測(cè)試
DTE/DCE低速率，同步/異步測(cè)試
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